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    CSK-IA超聲波標準試塊

    CSK-IA超聲波標準試塊

    產品特點:CSK-IA超聲波標準試塊
    CSK-IA超聲波標準試塊,調校儀器用超聲波試塊,濟寧模具廠試塊,東岳牌試塊
    所屬標準: JB 4730-2005
    材 質: 20#鋼、不銹鋼、鋁合金或P91

    產品型號:
    更新時間: 2020-10-31
    訪問次數: 2042
    產品詳情
    品牌其他品牌價格區間面議
    產地類別國產應用領域化工,石油,地礦,航天,綜合

    CSK-IA超聲波標準試塊

     

     CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態范圍;5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。
     

    CSK-IA超聲波標準試塊

    CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態范圍;5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。

    CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態范圍;5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。

    CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態范圍;5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。

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